EJSG 系列是 CKD 专为半导体制造、精密电子等高洁净环境开发的滚珠丝杆驱动型电动执行器,通过全密封结构 + 吸气口设计,将发尘量降低至行业水平,满足 ISO 4 级(10 级)洁净室标准。其外导轨式高刚性本体结合无电池绝对编码器,在保证 ±0.01mm 重复定位精度的同时,实现最长 1100mm 行程和 850mm/s 的高速运动,尤其适合晶圆搬运、芯片封装等对精度与可靠性要求苛刻的场景。该系列提供 ** 低发尘(-C)、防尘(-G)、二次电池制造(-P4)、食品级(-FP1)** 四大耐环境型号,可适配从半导体光刻到锂电池极片涂布的多样化需求。
EJSG-04:本体宽度 44mm,水平负载 6kg,行程范围 50-800mm,最高速度 400mm/s,适配 60W 伺服马达,重复定位精度 ±0.01mm,适合轻载短程精密定位。
EJSG-05:本体宽度 54mm,水平负载 14kg,行程范围 50-1100mm,最高速度 500mm/s,支持 100W 伺服马达,采用 10mm 导程滚珠丝杆,适合中长距离高速搬运。
EJSG-08:本体宽度 82mm,水平负载 43kg,行程范围 50-1100mm,最高速度 500mm/s,适配 200W 伺服马达,可承载大型检测设备稳定运行。
低发尘型(-C):通过全罩式密封结构和吸气口设计,发尘量比标准品减少 90%,满足半导体光刻工序对洁净度的严苛要求。
防尘型(-G):防护等级 IP50,粉尘环境下的使用寿命是标准品的 2 倍以上,适用于晶圆切割、研磨等多尘场景。
通用特性:全系标配外置润滑脂加注口和可视化维护指示器,保养工时减少 50%;无电池绝对编码器避免电池更换维护,平时间(MTBF)达 20,000 小时。
案例:晶圆检测线全流程自动化
在某半导体工厂的晶圆外观检测系统中,采用 EJSG-08-C(低发尘型) 与 EKS-06L(高精度滑块型) 的组合方案:
EJSG-08-C 作为水平输送轴,以 500mm/s 速度完成 1100mm 行程的晶圆盒移送,其 43kg 水平负载能力可稳定承载双层晶圆盒;
EKS-06L 作为垂直定位轴,通过 ±0.01mm 重复定位精度实现检测探头精准对焦,满足纳米级缺陷检测需求;
协同控制:利用 CKD 的 ECMG 多轴控制器 通过 EtherCAT 总线 实现双轴同步运动,检测节拍误差小于 ±1ms,设备综合效率(OEE)提升至 97% 以上。
拓展场景:
高刚性与高精度:外导轨式结构配合滚珠丝杆传动,刚性比皮带驱动型提升 3 倍,重复定位精度达 ±0.01mm,满足芯片封装、光学元件组装等精密场景需求。
多环境适应性:提供防尘、低发尘、二次电池专用、食品级四大衍生型号,可在 - 10~+60℃环境下稳定运行,支持 24 小时连续作业。
维护便捷性:外置润滑系统支持免拆卸保养,无电池绝对编码器减少故障点,维护成本比传统型号降低 40%。
技术延伸:EJSG 系列与 CKD 的 ECMG 多轴控制器 结合,可实现 16 轴同步控制,支持 S 型加减速、圆弧插补等复杂轨迹规划,适用于自动化生产线的全流程优化。其滚珠丝杆预紧力自动调节功能可减少 90% 的人工校准工作量,显著提升设备长期稳定性。