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日本 ONOSOKKI 小野 DG-4320 数字位移计数器多维度数据分析测试方法

更新时间:2026/9/17点击次数:11
日本 ONOSOKKI 小野 DG-4320 为数字式尺规计数器,搭配 BS/GS 系列数字位移尺规传感器,采集位移脉冲信号,完成瞬时值、最大值、最小值、极差等数据运算,下面从测试前期准备、静态尺寸测试、动态形变测试、数据运算分析、输出校验、测试后核验几个维度说明整套分析测试方法。

一、测试前期准备

  1. 硬件配套检查:确认配套数字位移尺规传感器完好,测杆运动顺滑无卡滞;将传感器脉冲输出线缆接入 DG-4320 输入端口,接头锁紧,线缆无破损。

  2. 安装固定:传感器采用刚性支架固定,保证测杆运动方向与被测位移方向保持同轴,减少侧向受力带来的测量偏差。基准平面清理干净,去除粉尘、切削碎屑。

  3. 仪表上电与基础参数配置:接通电源,等待仪表自检完成。进入参数菜单,设置脉冲倍频、系数、小数点位数,设置偏移量,参数需要匹配所接入位移传感器的分辨率。可预先保存 4 组不同测试配置方案,按需调用。

  4. 零点基准设定:将测头贴合基准面,执行归零操作,完成零点标定,确认仪表瞬时读数归零。

二、静态尺寸分析测试方法

静态测试用于工件厚度、高度、台阶尺寸等固定几何量采集。
  1. 工件就位,缓慢调整传感器支架,使测杆平稳接触被测工件表面,测杆处于有效量程区间,不触碰行程极限。

  2. 等待读数稳定,读取瞬时测量值;如需统计同一测点多次测量离散情况,开启 MAX/MIN 保持功能,多次重复测量,记录最大值、最小值,计算极差(MAX-MIN)。

  3. 同工件多点位测量时,每更换一处测点,需要重新复核零点,消除支架位移带来的系统偏差。

  4. 数据记录:可直接读取面板显示数值,或启用 BCD 数字输出,将测量数据传输至外部采集设备做批量记录。

三、动态位移形变分析测试方法

动态测试用于工件受压形变、跳动、往复位移等随时间变化的位移采集。
  1. 保持传感器固定,测头持续接触被测件表面,被测件按照预设工况做往复运动或者形变。

  2. 开启仪表 MAX、MIN 实时捕捉功能,仪表持续自动记录整个测试周期内的峰值与谷值位移。

  3. 连续采集过程中,记录瞬时位移变化,同时获取整个行程的极差数据,用于分析工件形变幅度、跳动量。

  4. 控制被测件运动速度,不超过传感器与计数器支持的响应速度上限,避免脉冲丢失造成数据失真。

  5. 同一工况重复多组试验,对比多组极差数据,分析测试结果重复性。

四、内置数据运算分析逻辑

DG-4320 内置运算模块,可在测量过程实时完成数据处理:
  1. 偏移运算:对原始测量数值叠加设定偏移量,适配基准偏移补偿场景。

  2. 系数运算:原始读数乘以设定系数,用于单位换算或者工装补偿。

  3. 倍频处理:对传感器输入脉冲执行 1/2/4 倍倍频,匹配不同分辨率尺规。

  4. 极值运算:自动捕获全程最大值、最小值,实时计算两者差值,用于分析波动幅度。

  5. 小数点位数自定义,按需切换显示分辨率,适配不同精度等级测试。

五、信号输出校验测试方法

  1. BCD 输出校验:配置 BCD 输出模式,外部采集设备读取仪表输出数字信号,对比面板显示数值,核对输出数据与本机读数一致性,更新周期 10ms。

  2. 输出逻辑选择,可切换正逻辑或负逻辑,根据后端采集设备输入要求进行设定。

  3. 多次改变测头位移,连续比对面板读数与外部接收数据,验证输出稳定性。

六、测试完成后核验

  1. 停止被测件运动,将测头脱离被测工件,观察仪表读数是否回归零点附近,判断有无零点漂移。

  2. 保存本次测试使用的参数配置,可存储在仪表内置 4 组参数组内,方便后续同类型测试直接调用。

  3. 整理采集数据,统计单次测量结果、极值、极差,评估测试重复性。

  4. 断电前拆除外部输出线缆,再断开传感器接线,清洁测头与基准平台。

七、测试数据异常判别

  1. 读数跳变:检查测杆运动是否存在卡滞,支架是否松动,脉冲线缆接头是否接触不良。

  2. 极值捕捉不准:核对传感器响应速度,确认被测件运动速度未超出设备额定范围,重新设置倍频参数。

  3. 零点偏移:复测基准平面,清理测头附着物,重新执行零点标定。


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