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日本CKD半导体电动执行器滑块型EKS-M
产品简介

日本CKD半导体电动执行器滑块型EKS-M
一、核心技术特性
超高速与高加速性能
采用交流伺服电机驱动,最快速度达 2500mm/s,加减速度 2G(为 CKD 传统机型的 2 倍),可大幅缩短半导体晶圆在多工位间的传输时间(如曝光、蚀刻设备中的晶圆切换)。这一特性对提升产线整体效率至关重要,尤其适用于高产能需求的量产场景。

产品型号:EKS-04M
更新时间:2025-09-17
厂商性质:经销商
访问量:7
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日本CKD半导体电动执行器滑块型EKS-M

日本CKD半导体电动执行器滑块型EKS-M


日本CKD半导体电动执行器滑块型EKS-M

一、核心技术特性

超高速与高加速性能

采用交流伺服电机驱动,最快速度达 2500mm/s,加减速度 2G(为 CKD 传统机型的 2 倍),可大幅缩短半导体晶圆在多工位间的传输时间(如曝光、蚀刻设备中的晶圆切换)。这一特性对提升产线整体效率至关重要,尤其适用于高产能需求的量产场景。

铁基外轨集成设计

机身采用铁基外轨一体化结构,相比传统 “执行器 + 外部导轨" 组合,** 刚性提升 30%** 且空间占用减少 20%。外轨表面经精密研磨处理,配合滚珠丝杠传动,能有效抑制运动时的振动与偏转,保障晶圆在搬运过程中的位置稳定性(避免因晃动导致的工艺误差)。

宽负载与长行程适配

提供 5 种机身宽度(43-104mm),最大水平负载达 171.5kg,支持最长 1500mm 行程。这一规格覆盖了半导体产线中从晶圆载具搬运到大型设备部件移动的多种需求,例如光刻胶涂布设备中的喷头位移控制。

多协议兼容与智能控制

驱动器支持CC-Link、EtherCAT、MECHATROLINK-Ⅲ等主流工业通信协议,可无缝集成至 SEMI 标准的半导体自动化系统中。搭配 CKD 全功能设置工具DES,用户可实时监控波形并进行最佳调谐,大幅缩短设备调试时间(如在晶圆检测设备中快速优化运动轨迹)。

二、半导体行业典型应用

晶圆高速搬运系统

在晶圆分选设备中,EKS-M 凭借 2500mm/s 的速度和 2G 加速度,可实现每小时超 1000 片晶圆的高速上下料,同时铁基外轨的高刚性确保晶圆在高速启停时无位置偏移。此外,其20,000km 超长耐久性,能满足半导体工厂 7×24 小时连续运转的可靠性要求。

精密工艺对位机构

在光刻设备中,EKS-M 的微米级定位稳定性(虽未明确重复定位精度,但基于铁基导轨与滚珠丝杠的组合,可推测达 ±10μm 级别)可实现晶圆与掩膜版的精准对准。其支持多轴同步控制的特性,还可用于多光束曝光系统中的多镜头协同运动。

检测与缺陷修复

在晶圆检测设备中,EKS-M 驱动检测探头进行高密度扫描,快速覆盖整片晶圆表面。当发现缺陷时,可精确移动至修复位置(如激光修复设备中的能量聚焦点调整),配合视觉识别系统实现 “检测 - 修复" 一体化流程。

三、选型与使用建议

型号与性能匹配

标准型(EKS-M):适用于一般高速搬运场景,如封装环节的芯片拾取与放置。

高刚性增强型(EKS-M-HR):通过强化导轨与丝杠精度,可进一步提升负载能力(最大 200kg),推荐用于大尺寸晶圆(如 12 英寸)的传输。

环境适应性优化

针对半导体洁净室环境,建议选择低发尘涂层(如聚四氟乙烯表面处理)和密封式滚珠丝杠,以减少颗粒污染风险。此外,可定制抗化学腐蚀材质(如不锈钢机身),适配湿法清洗设备等高湿度、强腐蚀性环境。

维护与故障预防

设备配备免拆解润滑脂注入口,建议每运行 500 小时进行一次润滑保养,以延长导轨与丝杠的使用寿命。同时,通过 DES 工具实时监测电机电流与温度,可提前预警潜在故障(如轴承磨损、丝杠卡滞),避免非计划停机造成的产能损失。

四、与竞品的差异化优势

相比同类型产品(如 SMC 的 LE 系列或 THK 的 LM 系列),EKS-M 的核心竞争力体现在:

速度与刚性的平衡:2500mm/s 的速度,同时铁基外轨设计确保了高速运动下的稳定性。

智能诊断功能:DES 工具支持运动数据的波形分析,可快速定位并解决振动、过冲等问题,而多数竞品需依赖外部监测设备。

本土化服务支持:CKD 在中国大陆设有技术中心(如喜开理(上海)机器有限公司),可提供48 小时内的现场调试与备件更换服务,显著缩短设备维修周期。

五、注意事项

停产风险提示:尽管该系列于 2019 年推出且未明确停产计划,但半导体行业技术迭代迅速,建议用户在选型时与 CKD 技术团队确认最新产品路线图,避免因型号淘汰导致的维护困难。

综上,EKS-M 系列凭借超高速、高刚性、智能化的核心优势,成为半导体制造中高速搬运与精密定位的理想选择,尤其适合对产能与可靠性要求先进制程产线。通过合理选型与定制化适配,可进一步挖掘其在半导体设备中的性能潜力。


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